нейным штрихом. Решетка изготавливается Иа» фери: ской» верхности, поэтому, помимд диспергирующих 4в, она `обла- дает свойством фокусировать спектр. Применение переменного, шага и коиволинейного штриха значительно уменьшает аберра- цнонные искажения вогнутой дифракционной решетки и .позво- ляет получить высовре качество спектра во всем рабочем сйект- ральном днапазоне, . Дифрагированный пучок фокусируется в плоскости выходной у щели 7 монохроматора, расположенной над входной щелью 5. Г 6 Cfemowunsmp 4 3 9 2. 10 iui, 2 Сканирование осуществляется поворотом дифракционной решет- ки, при этом монохроматичеекое излучение различных длин волн проходит через выходную шель Й.
линзу 8, контрольный или из- меряемый образец, линзу 9 и с помошью поворотного зеркала 10 попадает на светочуветвителниный слой фотоэлемента ff wan Ј2. Для уменьшения рассеянного света и срезания высших по- рядков дифракции в сисктрофотометре используются два свето- фильтра: из стекла ИСИ для работы в области спектра 230—450 нм и из стекла ОС для работы в области спектра 600—1100 нм. Смена свеииныльтров пронлаодится автомати- чески. Линзы изготовлены из кварцевого стекла © высоким коэф- фициентом пропускания и VI pap Hoste TORO OOJMICTH спектра. Для обеспечения работы снектрофотометра в широком спек- тральном дианииин исшьилуются два фотоэлемента ин два a wh" 6